Триботехническое материаловедение и триботехнология - Денисова В. А.
Рельеф поверхности шарика
во вторичных электронах (SEI) показан на рисунке 4.6, а - на нем
видны полосы в определенном направлении. После просмотра в рентгеновском
излучении (х-Ray Cu) отмечается,
что по всей поверхности имеется высокая концентрация меди, но наряду с
равномерным медным покрытием имеются области, чуть более обогащенные медью
(рисунок 4.6, б).
б - в рентгеновском излучении (х-Яау Си)
Рисунок 4.6 - Исследование поверхности шарика
На рисунке 4.7, а,б показаны
результаты исследования беговой дорожки внутреннего кольца, на которых явно
просматриваются участки сплошного медного покрытия. Исследования на электронном
микроскопе JSM35C фирмы JEOL (Япония)
дают возможность провести сравнительный анализ количественной оценки медного
слоя по импульсам излучения при заданном токе катода за равные промежутки
времени. Сравнения проводились на образцах дорожек опоры ротора. Результаты
приведены в таблице 4.2.
Исследования на присутствие
меди в рентгеновских лучах х-Яау Си проводились с
элементарной площадки ^, которую в приближении можно принять за точку, исходя
из методики исследования. Строка 2а соответствует информации с
участка явно обогащенного медью, величина импульса ^73-10 , чистая медь имеет
80-10 импульса. Резкий скачок импульса вниз (строка 2б) 550...634 может быть
вызван тем, что информация идет с элементарной площадки, которая может
оказаться между двумя светящимися точками, хотя визуально вся поверхность
равномерно покрыта медной пленкой.
а) б)